序言 vii編審委員 ix作者 xi第一章奈米科技概論 11.1前言 11.2奈米材料之特性 21.3奈米材料之結構 31.3.1奈米管 41.3.2奈米線 41.3.3量子點與量子井 51.3.4奈米孔洞材料 51.3.5奈米複合物 61.4製備技術 61.5應用領域 71.5.1奈米元件 71.5.2磁性元件 81.5.3光電元件 81.5.4生醫應用 91.5.5奈米材料其他應用 91.6結論 10‧參考文獻 10第二章奈米檢測簡介132.1概述 132.2奈米尺寸與計量單位 142.3檢測項目 152.3.1尺寸、外觀、粒徑、膜厚及力學特性 152.3.2機械特性 152.3.3光學特性 162.3.4表面結構 172.3.5電性 182.3.6磁性 192.3.7能量 212.3.8量子效應 212.3.9生物醫學 232.4檢測與奈米科技發展關係 24‧參考文獻 24第三章光子束檢測技術 273.1概述 273.1.1光的本質－波動與粒子的雙重性 273.1.2基於光學波動性質之光學顯微鏡 283.1.3影像技術鳥瞰 283.1.4突破繞射極限的光學顯微技術 293.1.5從空間解析到時間解析 323.1.6結語 333.2差動共焦顯微術 343.2.1基本原理 343.2.2技術規格與特徵 353.2.3應用與實例 423.2.4結語 513.3表面電漿子共振顯微術 513.3.1引言 523.3.2電漿子效應 543.3.3表面電漿子強化之螢光顯微術 573.3.4表面電漿子相位顯微術 603.3.5表面電漿子增強雙光子螢光顯微術 633.3.6結論 643.4非線性光學－多光子顯微術 643.4.1歷史沿革 643.4.2基本原理 653.4.3多光子顯微鏡的解析度 663.4.4應用與實例 673.4.5結論 713.5螢光光譜分析術 723.5.1基本原理 723.5.2技術規格與特徵 813.5.3螢光激發系統分類 863.5.4應用與實例 893.5.5結語 933.6拉曼光譜顯微術 943.6.1歷史 943.6.2基本原理 953.6.3共焦拉曼光譜顯微術 973.6.4掃描近場拉曼光譜顯微術 1013.6.5探針增強拉曼光譜顯微術 1033.6.6結論 1073.7相調反史托克拉曼散射顯微術 1083.7.1前言 1083.7.2基本原理 1103.7.3技術規格 1133.7.4應用與實例 1163.7.5結語 122‧參考文獻 122第四章X光檢測技術 1314.1概述 1314.2X光繞射分析術 1324.2.1基本原理 1324.2.2影響X光繞射峰的因素 1354.2.3卷積理論 1364.2.4技術規格與特徵 1464.2.5應用與實例 1464.2.6結語 1484.3 X光吸收光譜分析術 1484.3.1基本原理 1484.3.2技術規格與特徵 1534.3.3應用與實例 1544.3.4結語 1624.4X光光電子光譜法 1624.4.1簡介 1624.4.2束縛能 1634.4.3光電子的動能 1694.4.4儀器特徵 1704.4.5光譜特徵 1754.4.6定量分析 1804.4.7縱深資訊 1814.4.8結語 1854.5小角度X光散射分析術 1854.5.1基本原理 1854.5.2技術規格與特徵 1974.5.3應用與實例 2004.5.4結語 2024.6X光螢光分析術及X光全反射螢光光譜分析術 2024.6.1基本原理 2024.6.2技術規格與特徵 2044.6.3應用與實例 2094.6.4結語 2104.7X光反射率測量法 2114.7.1前言 2114.7.2基本原理 2124.7.3實驗方法 2164.7.4程式模擬 2184.7.5應用實例 2224.7.6結語 2254.8X光微聚焦光束技術 2254.8.1前言 2254.8.2X光光源 2274.8.3X光聚焦光學元件 2284.8.4微聚焦同步輻射光束線 2334.8.5X光微聚焦光束之應用 2364.8.6結語 244‧參考文獻 245第五章離子束檢測技術 2535.1概述 2535.2二次離子質譜分析術 2545.2.1基本原理 2545.2.2技術規格與特徵 2575.2.3應用與實例 2605.2.4結語 2675.3拉塞福背向散射分析術 2685.3.1物理背景 2685.3.2實驗裝置 2695.3.3工作原理 2705.3.4參考實例 2745.3.5能量鑑別 2765.3.6氫的偵測 2775.3.7溝渠效應 2795.3.8結語 2835.4中能量離子散射分析術 2845.4.1簡介 2845.4.2基本原理 2855.4.3儀器設備 2885.4.4應用實例 2915.4.5結語 2945.5粒子誘發X光分析術 2945.5.1基本原理 2955.5.2儀器設備與量測 2995.5.3應用與實例 3035.5.4結語 313‧參考文獻 313第六章電子束檢測技術 3176.1概述 3176.2掃描式電